Thin Film Analysis by X-Ray Scattering
Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt/Oder, Germany) Birkholz
2005
· 378 pp.
· Англійська
Середня: 0.00
| Автори | Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt/Oder, Germany) Birkholz |
|---|---|
| Видавництво | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Перекладачі | |
| Категорії: | Наука |
| ISBN | 9783527310524 |
| Рік видання | 2005 |
| Мова | Англійська |
| Кількість сторінок | 378 |
0
Користувачів прочитали
0
Користувачів планують прочитати
0
Оцінок
0
Відгуків написано
Користувачів прочитали
0
Користувачів планують прочитати
0
Оцінок
0
Відгуків написано
0
