Measurements-Based Radar Signature Modeling: An Analysis Framework
Джон А. Табачинські, Джозеф Т. Мейхан
2024
· 512 pp.
· Англійська
Середня: 0.00
| Автори | Джон А. Табачинські, Джозеф Т. Мейхан |
|---|---|
| Видавництво | MIT Press Ltd |
| Перекладачі | |
| Категорії: | Технології та ІТ |
| ISBN | 9780262048118 |
| Рік видання | 2024 |
| Мова | Англійська |
| Кількість сторінок | 512 |
0
Користувачів прочитали
0
Користувачів планують прочитати
0
Оцінок
0
Відгуків написано
Користувачів прочитали
0
Користувачів планують прочитати
0
Оцінок
0
Відгуків написано
0
